MKS Instruments präsentiert mit Ophir SP1201 und SP1203 zwei kompakte Strahlprofilmessgeräte basierend auf InGaAs-Kameras. Der Laserstrahl lässt sich damit in Echtzeit beurteilen und hinsichtlich seiner optischen Leistungsfähigkeit messen. Entwickelt für hochempfindliche bildgebende Messungen, nutzt die SP1201 eine InGaAs-Kamera mit QVGA-Auflösung, während die SP1203 mit einer hochauflösenden VGA InGaAs-Kamera arbeitet. Beide Strahlprofilmessgeräte beinhalten die BeamGage Professional Software von Ophir. Die Kameras erfassen und analysieren Wellenlängen zwischen 900 und 1700 nm. Sie zeichnen sich durch ihr kompaktes Design, einen sehr kleinen Bildpunktabstand (15µm – 30 µm), hohe Bildwiederholraten größer als 60 Bilder pro Sekunde, ein optimales Signal-Rausch-Verhältnis und eine schnelle GigE-Schnittstelle aus. Die Strahlprofilmessgeräte eignen sich damit in idealer Weise zur Messung von Dauerstrich- und gepulsten Lasern in der Telekommunikation, in augensicheren militärischen Anwendungen oder zur Ausrichtung unterschiedlicher Laserquellen. Im medizinischen Umfeld lassen sich Laser und LEDs vermessen.
Die Strahlprofilmessgeräte beinhalten die BeamGage Professional Software von Ophir. Sie bietet eine umfangreiche graphische Bedienoberfläche und liefert hochentwickelte Algorithmen, um präzise, ISO-konforme Messwerte zu liefern; darunter Strahldurchmesser und -form, Divergenz, Strahlprofil und erwartete Leistungsverteilung. Die Software bietet eine fortschrittliche Bildverarbeitung und nutzt den patentierten UltraCal Algorithmus, der industrieweit die präzisesten Messergebnisse liefert. BeamGage Professional ermöglicht darüber hinaus die getrennte Analyse mehrerer Laserstrahlen, eine .NET Schnittstelle zur Fernüberwachung, sobald die Strahlanalyse in eine automatisierte Anwendung integriert wird, und die gemeinsame Nutzung der Kamera.
Die Strahlprofilmessgeräte SP1201 und SP1203 verfügen jeweils über GigE-Power over Ethernet-Schnittstellen, die eine einfache Stromversorgung über das Netz gewährleisten. Durch Triggering lassen sich alle Pulse eines gepulsten Lasersystems aufzeichnen. Die Strahlprofilmessgeräte unterstützen auch die automatische Auswahl der geeigneten nicht-linearen Korrekturtabelle.
SP1201 Strahlprofilanalysator Datenblatt: http://ow.ly/MJCn50ufaJd
SP1203 Strahlprofilanalysator Datenblatt: http://ow.ly/k0gg50ufaKA
Firmenkontakt
Ophir Spiricon Europe GmbH
Christian Dini
Guerickeweg 7
64291 Darmstadt
+49 6151 708 0
christian.dini@eu.ophiropt.com
http://www.ophiropt.com
Pressekontakt
claro! PR+Text
Dagmar Ecker
Allmannspforte 5
68649 Gross-Rohrheim
+49 6245 906792
de@claro-pr.de
www.claro-pr.de
Christian Dini
Ophir Spiricon Europe GmbH
christian.dini@eu.ophiropt.com